Fonctiounen:
- Haltbar
- Niddereg Insertion
- Verloscht Low VSWR
Sonden sinn elektronesch Geräter déi benotzt gi fir elektresch Signaler oder Eegeschaften an elektronesche Circuiten ze moossen oder ze testen. Si sinn normalerweis mat engem Oszilloskop, Multimeter oder aner Testausrüstung verbonne fir Daten iwwer de Circuit oder de Komponente ze sammelen, deen gemooss gëtt.
1.Durable RF Sonde
2.Available a véier Distanzen vun 100/150/200/25 Mikron
3.DC ze 67 GHz
4.Insertion Verloscht manner wéi 1,4 dB
5.VSWR manner wéi 1,45dB
6.Beryllium Kupfermaterial
7.Héich aktuell Versioun verfügbar (4A)
8.Light Indentatioun an zouverléisseg Leeschtung
9.Anti Oxidatioun Néckel Legierung Sonde Tipp
10.Custom Konfiguratiounen sinn
11.Suitable fir op Chip Testen, Kräizung Parameter Extraktioun, MEMS Produit Testen, an op Chip Antenne Testen vun Mikrowellen integréiert Kreesleef
1. Exzellent Miessgenauegkeet an Widderhuelbarkeet
2. Minimal Schued verursaacht duerch kuerz Kratzer op Aluminiumpads
3. Typesch Kontakt Resistenz< 0,03 Ω
1. RF Circuit Test:
RF Sonde kënnen un den Testpunkt vum RF Circuit verbonne ginn, andeems d'Amplitude, Phase, Frequenz an aner Parameteren vum Signal gemooss ginn fir d'Performance an d'Stabilitéit vum Circuit ze evaluéieren. Et kann benotzt ginn fir RF Kraaftverstärker, Filter, Mixer, Verstärker an aner RF Circuiten ze testen.
2. Wireless Kommunikatioun System Test:
RF Sonde kann benotzt ginn fir drahtlose Kommunikatiounsgeräter ze testen, wéi Handyen, Wi-Fi Router, Bluetooth Geräter, asw. Ofwäichung kann gemooss ginn fir d'Performance vum Apparat ze evaluéieren an de System Debugging an Optimiséierung ze guidéieren.
3. RF Antenne Test:
RF Sonde kann benotzt ginn fir d'Strahlungseigenschaften vun der Antenne an der Inputimpedanz ze moossen. Andeems Dir d'RF Sonde un d'Antennestruktur beréiert, kann d'Antenne VSWR (Spannungsstandwelle Verhältnis), Stralungsmodus, Gewënn an aner Parameter gemooss ginn fir d'Performance vun der Antenne ze evaluéieren an d'Antennedesign an d'Optimiséierung auszeféieren.
4. RF Signal Iwwerwachung:
RF Sonde kann benotzt ginn fir d'Iwwerdroung vun RF Signaler am System ze iwwerwaachen. Et kann benotzt ginn fir Signalattenuatioun, Interferenz, Reflexioun an aner Probleemer z'entdecken, hëlleft Feeler am System ze fannen an ze diagnostizéieren an déi entspriechend Ënnerhalt an Debugging Aarbecht ze guidéieren.
5. Elektromagnetesch Kompatibilitéit (EMC) Test:
RF Sonde kënne benotzt ginn fir EMC Tester auszeféieren fir d'Sensibilitéit vun elektroneschen Apparater fir RF Interferenz an der Ëmgéigend ze bewäerten. Andeems Dir eng RF Sonde no beim Apparat setzt, ass et méiglech d'Äntwert vum Apparat op extern RF Felder ze moossen an seng EMC Leeschtung ze evaluéieren.
Qualwaveliwwert DC ~ 110GHz Héichfrequenz Sonden, déi d'Charakteristike vu laanger Liewensdauer, nidderegen VSWR a gerénger Insertion Verloscht hunn, a si passend fir Mikrowellentest an aner Beräicher.
Single Port Probes | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Deel Zuel | Frequenz (GHz) | Pitch (μm) | Tipp Gréisst (m) | IL (dB Max.) | VSWR (Max.) | Configuratioun | Montéierung Stiler | Connector | Kraaft (W Max.) | Lead Time (Wochen) |
QSP-26 | DC~26 | 200 | 30 | 0.6 | 1,45 | SG | 45° | 2,92 mm | - | 2~8 |
QSP-40 Eng | DC~40 | 100/125/150/250/300/400 | 30 | 1 | 1.6 | GS/SG/GSG | 45° | 2,92 mm | - | 2~8 |
QSP-50 Eng | DC~50 | 150 | 30 | 0.8 | 1.4 | GSG | 45° | 2,4 mm | - | 2~8 |
QSP-67 | DC~67 | 100/125/150/240/250 | 30 | 1.5 | 1.7 | GS/SG/GSG | 45° | 1,85 mm | - | 2~8 |
QSP-110 Fotoen | DC~110 | 50/75/100/125 | 30 | 1.5 | 2 | GS/GSG | 45° | 1,0 mm | - | 2~8 |
Dual Port Probes | ||||||||||
Deel Zuel | Frequenz (GHz) | Pitch (μm) | Tipp Gréisst (m) | IL (dB Max.) | VSWR (Max.) | Configuratioun | Montéierung Stiler | Connector | Kraaft (W Max.) | Lead Time (Wochen) |
QDP-40 | DC~40 | 125/150/650/800/1000 | 30 | 0,65 | 1.6 | SS/GSGSG | 45° | 2,92 mm | - | 2~8 |
QDP-50 | DC~50 | 100/125/150/190 | 30 | 0,75 | 1,45 | GSSG | 45° | 2,4 mm | - | 2~8 |
QDP-67 | DC~67 | 100/125/150/200 | 30 | 1.2 | 1.7 | SS/GSSG/GSGSG | 45° | 1,85 mm, 1,0 mm | - | 2~8 |
Manuell Sonden | ||||||||||
Deel Zuel | Frequenz (GHz) | Pitch (μm) | Tipp Gréisst (m) | IL (dB Max.) | VSWR (Max.) | Configuratioun | Montéierung Stiler | Connector | Kraaft (W Max.) | Lead Time (Wochen) |
QMP-20 | DC~20 | 700/2300 | - | 0,5 | 2 | SS/GSSG/GSGSG | Kabel Mount | 2,92 mm | - | 2~8 |
QMP-40 Eng | DC~40 | 800 | - | 0,5 | 2 | GSG | Kabel Mount | 2,92 mm | - | 2~8 |
Kalibrierung Substrate | ||||||||||
Deel Zuel | Pitch (μm) | Configuratioun | Dielektresch Konstant | Dicke | Outline Dimensioun | Lead Time (Wochen) | ||||
QCS-75-250-GS-SG-A Fotoen | 75-250 | GS/SG | 9.9 | 25 mil (635 μm) | 15 * 20 mm | 2~8 | ||||
QCS-100-GSSG-A Fotoen | 100 | GSSG | 9.9 | 25 mil (635 μm) | 15 * 20 mm | 2~8 | ||||
QCS-100-250-GSG-A Fotoen | 100-250 | GSG | 9.9 | 25 mil (635 μm) | 15 * 20 mm | 2~8 | ||||
QCS-250-500-GSG-A Fotoen | 250-500 | GSG | 9.9 | 25 mil (635 μm) | 15 * 20 mm | 2~8 | ||||
QCS-250-1250-GSG-A Fotoen | 250-1250 | GSG | 9.9 | 25 mil (635 μm) | 15 * 20 mm | 2~8 |